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51.
A (w,r) cover‐free family is a family of subsets of a finite set such that no intersection of w members of the family is covered by a union of r others. A (w,r) superimposed code is the incidence matrix of such a family. Such a family also arises in cryptography as the concept of key distribution pattern. In the present paper, we give some new results on superimposed codes. First we construct superimposed codes from super‐simple designs which give us results better than superimposed codes constructed by other known methods. Next we prove the uniqueness of the (1,2) superimposed code of size 9 × 12, the (2,2) superimposed code of size 14 × 8, and the (2,3) superimposed code of size 30 × 10. Finally, we improve numerical values of upper bounds for the asymptotic rate of some (w,r) superimposed codes. © 2004 Wiley Periodicals, Inc. 相似文献
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姜德元 《浙江大学学报(理学版)》2003,30(5):499-502
研究了NA序列重对数律收敛速度的一般形式,把Davis和Gut的结果推广到了NA的情形,并使梁汉营等人关于对数律一个结果成为特例;作为推论,得到了关于NA序列重对数律收敛速度的充分条件. 相似文献
53.
激光等离子体探针及应用研究 总被引:6,自引:1,他引:5
本文介绍用阴影、纹影相干涉方法确定等离子体折射系数变化的原理。分析了等离子体中的非线性效应和对光探测系统的基本要求。并简要叙述了实验上采用的后向喇曼探测束,给出了等离子体干涉、纹影和阴影的测量结果。 相似文献
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55.
Neodymium doped bismuth layer structure ferroelectrics (BLSFs) ceramics CaBi4−xNdxTi4O15 (x=0, 0.25, 0.50, 0.75) were prepared by solid-state reaction method. X-ray diffraction pattern showed that single phase was formed when x=0-0.75. The refined lattice parameters showed that a (b) axes decrease at x=0.25 and increase with more Nd3+ dopant. The effects of Nd3+ doping on the dielectric and ferroelectric properties of CaBi4Ti4O15 ceramics are studied. Nd3+ dopant decreased the Curie temperature linearly, and the dielectric loss, tan δ, as well. The remnant polarization of Nd3+ doped CaBi4Ti4O15 ceramics was increased by 80% at x=0.25, while more Nd3+ dopant decreased the remnant polarization. CaBi3.75Nd0.25Ti4O15 ceramics had the largest piezoelectric constant d33. The structure and properties of CaBi4−xNdxTi4O15 ceramics showed that Nd3+ may occupy different crystal locations when Nd3+ content x is less than 0.25 and more than 0.50. 相似文献
56.
Deposition of Hydrogen-Free Silicon Nitride Thin Films by Microwave ECR plasma Enhanced Magnetron Sputtering at Room Temperature 下载免费PDF全文
Hydrogen-free silicon nitride (SiNx) films were deposited at room temperature by microwave electron cyclotron resonance (MW-ECR) plasma enhanced unbalance magnetron sputtering system. Both Fourier-transform infrared spectroscopy and x-ray photoelectron spectroscopy are used to study the bonding type and the change of bonding structures of the silicon nitride films. The results indicate that the chemical structure and composition of SiNx films deposited by this technique depend strongly on the N2 flow rates, the stoichiometric SiNx film, which has the highest hardness of 22.9 GPa, could be obtained at lower N2 flow rate of 4 sccm. 相似文献
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59.
60.
室温下,通过双核配合物[Cu(dppm)(NO3)]2(dppm=双二苯基膦甲烷)与四苯基硼钠在甲醇和二氯甲烷混合溶剂中反应制备了三核铜(I)配合物[Cu3(dppm)3(NO3)(OH)](NO3),经过红外光谱、热重分析、核磁和ES-MS等现代分析手段表征了配合物的物理化学性质,并进一步研究了配合物在室温下的荧光光谱特征。 相似文献